芯耀
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目的和益處
本設(shè)計(jì)建議闡釋了如何分析和識(shí)別 MEMS 傳感器中的噪聲。解釋了 Allan 和 Hadamard 方差及其變體（重疊、修正和總體）。還提到了理論方差#1（Theo1）。
優(yōu)勢(shì)：
- 如何通過 Allan 和其他方差來表征 MEMS 傳感器
信號(hào)和噪聲
基本假設(shè)是：測(cè)量期間目標(biāo)信號(hào)是恒定且平穩(wěn)的。但是傳感器輸出是目標(biāo)信號(hào)和噪聲的總和。大體上，從長(zhǎng)期看噪聲應(yīng)該平均為零。
測(cè)量期間采集多個(gè)樣本。噪聲的分析和識(shí)別可以幫助確定要使傳感器輸出的方差最小，需要對(duì)多少個(gè)樣本取平均。
標(biāo)準(zhǔn)方差的問題在于，它不能很好地表征增加數(shù)據(jù)運(yùn)行長(zhǎng)度時(shí)的情形。為了解決此問題，開發(fā)出了 Allan 方差。Allan 方差 σ2被計(jì)算為連續(xù)“樣本”（2 樣本方差）之間的平方差的平均值。通過在時(shí)間間隔 τ = m*Ts 中對(duì) m 個(gè)樣本求平均來計(jì)算“樣本”，其中 Ts=1/Fs 是采樣間隔，F(xiàn)s 是采樣頻率。
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